Analizzatore dell'Oro XRF | NRT Technic – Misura di Titolo e Caratura

Name: Analizzatore dell'oro NRT
Brand: NRT Technic

Dimensioni dell'analizzatore XRF NRT – strumento da tavolo compatto per l'analisi in oreficeria

Oggetti misurabili con l'analizzatore XRF – anelli, bracciali, lingotti e gioielli

Intervallo di elementi dell'analizzatore XRF NRT – 30 elementi da S a U: oro, argento, platino e palladio

Collimatore dell'analizzatore XRF – misura puntuale di precisione da 1,2 mm per i gioielli

Analizzatore XRF NRT – risultato preciso di caratura e titolo in 60 secondi

Specifiche tecniche dell'analizzatore NRT – rilevatore XRF SDD/Si-PIN, precisione dello 0,03 %

Analizzatore dell'oro XRF – strumento NRT Technic per misurare titolo e caratura in oreficeria

Analizzatore XRF NRT – pannello frontale dello strumento per l'analisi non distruttiva dei metalli preziosi

Analizzatore della caratura NRT – vista laterale del sistema di misura XRF con rilevatore SDD

Analizzatore del Titolo dell'Oro

Il nostro analizzatore dell'oro, basato sulla tecnologia XRF (fluorescenza a raggi X), misura in pochi secondi il titolo, la caratura e la composizione della lega di oro e altri metalli preziosi senza arrecare alcun danno al pezzo.

Caratteristiche Principali

Analisi non distruttiva
Risultati in pochi secondi
Analisi multielemento
Schermo touch
Stampa del referto
Design intuitivo

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Specifiche Tecniche

Intervallo di Elementi Analizzati	S (n. 16) – U (n. 92)
Elementi Simultanei	Fino a 30 elementi
Intervallo di Analisi dei Metalli Preziosi	%0.010 – %99.999
Precisione	±0,03 % (riferimento oro 9999)
Rilevatore	Si-PIN / SDD (USA – AMPTEK)
Risoluzione Energetica	145 ± 5 eV
Collimatore (Spot di Misura)	Ø 1,2 mm (misura puntuale)
Geometria dei Raggi X	Angolo di misura di 90°
Tubo a raggi X	Berillio
Durata Tipica del Test	60 secondi
Test Continuo Multipunto	Misure puntuali in serie sullo stesso pezzo
Avvisi	Avviso di placcatura, avviso di rilevamento rodio/tungsteno
Opzionale	Stampa del referto
Computer / SO	Intel Celeron (2 core), Windows 10 Pro

Documenti Scaricabili

Catalogo Prodotto (PDF) Manuale d'Uso (PDF)

Informazioni Dettagliate sul Prodotto

Il nostro strumento è dotato di componenti tecnologicamente avanzati per garantire alta precisione e risultati di analisi affidabili. Con la tecnologia di rilevamento Amptek di produzione statunitense, disponibile nelle versioni Si-PIN e SDD, risponde a esigenze diverse. I bassi margini di errore producono misure più chiare e coerenti. Il tubo a raggi X con finestra in berillio e l'angolo di misura di 90° migliorano l'accuratezza dell'analisi, mentre la durata ottimizzata di 60 secondi assicura dati equilibrati e affidabili. La struttura avanzata del collimatore consente misure più precise. Per l'analisi di pezzi placcati è previsto l'approccio di misura più adatto, per risultati più accurati. L'elevata stabilità dei raggi X genera valori medi più affidabili. Inoltre, lo strumento mette al primo posto la sicurezza dell'operatore grazie al sistema di schermatura avanzato, garantendo un utilizzo sicuro nel tempo.

Analisi affidabile con la tecnologia XRF

Il metodo XRF (fluorescenza a raggi X) determina il contenuto metallico senza sottoporre il campione ad acidi o trattamenti chimici. Il pezzo analizzato non subisce quindi alcun danno e il processo si conclude istantaneamente.

Non distruttivo: Non danneggia mai il pezzo e non impiega prodotti chimici
Rapido: Risultati definitivi in appena 60 secondi
Affidabile: Rilevatori SDD e Si-PIN ad alta precisione con accuratezza di ±0,01-0,03 %
Completo: Analisi di oro, argento, platino, palladio e oltre 30 elementi